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射频注入探头

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产品名称: 射频注入探头
产品型号: P500
产品展商: Langer
产品文档: 无相关文档


简单介绍
射频注入探头P500来自功率放大器的射频干扰通过探头流向被测针脚,同时在探头尖端进行电流和电压的测量。射频注入探头P500可以记录下的参数可以绘制IC的EMC特性,得出更正确的结论。大电流时,因磁性原因产生功能故障,大电压时,因耦合电容产生故障。

射频注入探头

的详细介绍


产品说明:

一个固定功率的射频通过耦合到IC针脚上来表征其抗干扰的能力。IC的故障则可显示内部干扰。来自功率放大器的射频干扰通过探头流向被测针脚,同时在探头尖端进行电流和电压的测量。记录下的参数可以绘制IC的EMC特性,得出更正确的结论。大电流时,因磁性原因产生功能故障,大电压时,因耦合电容产生故障。新的测量程序下,无功电流的测量不能由一个共同的测量功率进行。因此,详细的检查结果仍是未知的。但是电路板的发展得益于新的测量方法,那就是射频注入。
 
总体技术参数:
探头型号
Probe 501
Probe 502
Probe 503
电流表频率
2 MHz - 3 GHz
2 MHz - 3 GHz
200 kHz - 1.5 GHz
大电流
1 A
1 A
1 A
电压表频率
16 kHz - 3 GHz
16 kHz - 3 GHz
16 kHz - 3 GHz
大电压
50 V
1 V
50 V
转移因子
- 40 dB
0 dB
- 40 dB
耦合电容
3 µF oder 6.8 nF*
3 µF oder 6.8 nF*
3 µF oder 6.8 nF*
大功率传输
30 W
30 W
30 W
辅助供电:
12 V
12 V
12 V


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