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解决方案

屏蔽性能测试标准的探讨

随着各种电器和电子设备的广泛应用,电磁污染日益加剧。我们进行屏蔽性能测试标准的探讨是为了减少这种电磁污染,在整个电子系统中,所有单元组件尤其是电缆组件及射频连接器等接插件应当采取屏蔽措施。为了对各种不同的屏蔽结构进行屏蔽效果的比较,就需要一个标准化的测量方法,来进行对屏蔽衰减的测试,从而代替对转移阻抗的测试。而与以mΩ/m 或mΩ为计量单位的转移阻抗相比,RF 电缆、电缆组件和接插件的用户也更加关注以分贝(dB)计量单位的屏蔽性能,即屏蔽衰减。

 

CoMeT测试系统是由CoMeT测试套管及相应的网络分析仪组成通过该系统的封闭测试装置可以测试出大于125dB的屏蔽衰减和**到μOhm的转移阻抗采用CoMeT 测试管系统可以根据下列国家、地区或国际标准来进行对转移阻抗、屏蔽衰减及耦合衰减的测试。

 

屏蔽性能测试标准的探讨之国际标准:

IEC 61196-1,同轴电缆:壹部分通用规格,12.2 条款,表面转移阻抗,

IEC 61196-1-A,第修订版,屏蔽衰减测试法

IEC/PAS 62338 ED1,耦合衰减,三同轴测试法

 

屏蔽性能测试标准的探讨之区域标准(欧洲标准):

EN 50289-1-6 A:转移阻抗,(三同轴测试法)

EN 50289-1-6 C:屏蔽衰减(三同轴测试法)

 

屏蔽性能测试标准的探讨之国家标准(德国标准):

DIN 47250 第4 部分,高频电缆电路,3。11 条款,转移阻抗

E DIN IEC 61196-1 高频电缆,部分,专业基础说明-总论,定义、要求及测试方法 12.2 条款 转移阻抗,三同轴测试法

VG 95214-12 被屏蔽元器件的转移阻抗和屏蔽衰减的测试方法,第12 条款:KS12B 测试方法,转移阻抗,三同轴测试法

VG 95214-13 被屏蔽元器件的转移阻抗和屏蔽衰减的测试方法,第13 条款:KS13B 测试方法,屏蔽衰减,三同轴测试法

 

使用CoMeT 测试系统测试接插件和组合电缆的屏蔽衰减标准尚在制定中。IEC TC46/WG 正在将CoMeT管中管测试法制定成测试屏蔽性能的国际标准。

 

屏蔽性能测试标准的探讨之电磁兼容(EMC)行业标准:

IEC 62153-4-x 系列: 金属通信电缆测试方法,第四部分

• IEC 62153-4-3: 表面转移阻抗 –三同轴测试方法

• IEC 62153-4-4: 屏蔽衰减,到 3 GHz频率的屏蔽衰减测量方法

• IEC 62153-4-7: 屏蔽衰减, 通信电缆转移阻抗 ZT的测试方法以及RF连接器和电缆以及电缆组件3GHz以内屏蔽衰减测试方法,管中管方法

• IEC 62153-4-9, (IEC/PAS 62338 Ed1): 平衡电缆屏蔽衰减测试方法, 三同轴法

 

屏蔽性能测试标准的探讨之中国国家标准

国军标GJB1217-1991 方法3008 模式搅拌法,10GHz多接触件连接器屏蔽效果测试(非适用)

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